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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[This paper presents an introduction to the SVET (Scanning Vibrating Electrode Technique). It starts with a brief historical account, followed by the operating principle, examples of application to corrosion, possible calculations, limitations, instrumentation, technical details and examples of its association with other electrochemical techniques.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[ <p align="right"><b>ARTIGO</b></p>     <p><b>Uma introdu&ccedil;&atilde;o &agrave; t&eacute;cnica svet</b></p>     <p><b>An introduction to the svet</b></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><b>A. C. Bastos(1)*, S. A. S. Dias(2), T. C. Diamantino(2) e M. y. S. Ferreira(1)</b></p>     <p>(1) Universidade de Aveiro, Departamento de Engenharia de Materiais e Cer&acirc;mica, Campus Universit&aacute;rio de Santiago, 3810-193 Aveiro, Portugal</p>     <p>(2) LNEG – Laborat&oacute;rio Nacional de Energia e Geologia, Laborat&oacute;rio de Materiais e Revestimentos (LMR), Estrada do Pa&ccedil;o do Lumiar, 22, Ed. E, 1649-038 Lisboa, Portugal</p>     <p>(*) A quem a correspond&ecirc;ncia deve ser dirigida: <a href="mailto:acbastos@ua.pt">acbastos@ua.pt</a></p>     <p>&nbsp;</p>     <p><b>RESUMO</b></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Este artigo apresenta uma introdu&ccedil;&atilde;o &agrave; T&eacute;cnica do El&eacute;ctrodo Vibrante de Varrimento (SVET). Come&ccedil;a por uma breve resenha hist&oacute;rica, seguida da descri&ccedil;&atilde;o do princ&iacute;pio de funcionamento, exemplos da aplica&ccedil;&atilde;o a casos de corros&atilde;o, alguns c&aacute;lculos poss&iacute;veis, limita&ccedil;&otilde;es, instrumenta&ccedil;&atilde;o, detalhes experimentais e exemplos da sua associa&ccedil;&atilde;o a outras t&eacute;cnicas electroqu&iacute;micas.</p>     <P><b>Palavras-chave:</b>: SVET, SRET</P>     <p>&nbsp;</p>     <p><b>ABSTRACT</b></p>     <p>This paper presents an introduction to the SVET (Scanning Vibrating Electrode Technique). It starts with a brief historical account, followed by the operating principle, examples of application to corrosion, possible calculations, limitations, instrumentation, technical details and examples of its association with other electrochemical techniques.</p>     <P><b>Keywords</b>: SVET, SRET</P>     <p>&nbsp;</p>     <p><B>1. INTRODUCTION</B></p>     <p>A t&eacute;cnica SVET (do nome ingl&ecirc;s Scanning Vibrating Electrode Technique, que em portugu&ecirc;s pode ser traduzido por T&eacute;cnica do El&eacute;ctrodo Vibrante de Varrimento) foi originalmente desenvolvida por bi&oacute;logos entre as d&eacute;cadas de 1950 e 1970 com o objectivo de medir as correntes i&oacute;nicas associadas a processos de diferencia&ccedil;&atilde;o celular, regenera&ccedil;&atilde;o de tecidos e electrofisiologia, &aacute;reas onde &eacute; conhecida como Vibrating Probe [1-8]. A sua introdu&ccedil;&atilde;o na &aacute;rea da corros&atilde;o ocorreu na d&eacute;cada de 1980 por Hugh Isaacs [9-12]. At&eacute; ent&atilde;o, o potencial e a corrente em solu&ccedil;&atilde;o eram medidos usando el&eacute;ctrodos de refer&ecirc;ncia, geralmente com capilares de Luggin-Haber, ideia iniciada no final dos anos 1930s por Thornhill e Evans [13-14] e, principalmente, Agar e Evans [15-16].</p>     <p>O conceito teve continuidade nas d&eacute;cadas seguintes por v&aacute;rios autores, destacando-se as refer&ecirc;ncias [17-23]. A primeira revis&atilde;o bibliogr&aacute;fica surgiu em 1965 [24] e em 1981 Isaacs faz uma nova revis&atilde;o [25] tendo ent&atilde;o denominado de SRET (Scanning Reference Electrode Technique) o conjunto de t&eacute;cnicas de mapeamento baseadas em el&eacute;ctrodos de refer&ecirc;ncia n&atilde;o vibrantes. Pode ainda referir-se o livro de Helmut Kaesche [26] onde muitos dos estudos referidos atr&aacute;s foram analisados em detalhe. Revis&otilde;es recentes de trabalhos publicados usando SRET e SVET podem ser encontradas em [27, 28]. A sua consulta revela que estas t&eacute;cnicas t&ecirc;m sido utilizadas na an&aacute;lise de casos de corros&atilde;o galv&acirc;nica, corros&atilde;o por picada, corros&atilde;o sob tens&atilde;o, corros&atilde;o intergranular, corros&atilde;o microbiol&oacute;gica, inibidores de corros&atilde;o e revestimentos.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>&nbsp;</p>     <p><b>2. PRINC&Iacute;PIO DE FUNCIONAMENTO</b></p>     <p>Provavelmente a melhor forma de entender o funcionamento da SRET e da SVET na medi&ccedil;&atilde;o do potencial e da corrente em solu&ccedil;&atilde;o &eacute; considerar uma c&eacute;lula com placas paralelas como a que se apresenta na <a href="#f1">figura 1a)</a> por onde circula uma corrente cont&iacute;nua de 100 &micro;A. A <a href="#f1">figura 1b)</a> mostra a diferen&ccedil;a de potencial medida em v&aacute;rios pontos do circuito, com destaque para a queda &oacute;hmica em solu&ccedil;&atilde;o, a qual se reduz apreciavelmente quando a concentra&ccedil;&atilde;o (e consequentemente a conductividade) da solu&ccedil;&atilde;o aumenta. O perfil da queda &oacute;hmica foi obtido tamb&eacute;m com um microel&eacute;ctrodo de refer&ecirc;ncia que se moveu relativamente a outro mantido fixo - <a href="#f1">figura 1c</a>). A varia&ccedil;&atilde;o de potencial em solu&ccedil;&atilde;o foi cerca de 120 mV cm<sup>-1</sup> para a solu&ccedil;&atilde;o NaCl 5 mM e 1,5 mV cm<sup>-1</sup> para a solu&ccedil;&atilde;o cem vezes mais concentrada e com uma conductividade 78 vezes maior. A densidade de corrente em solu&ccedil;&atilde;o, <i>i</i>, pode ser calculada usando a seguinte equa&ccedil;&atilde;o,</p> <img src="/img/revistas/cpm/v32n2/32n2a03e1.jpg">     
<p>&nbsp;</p> <a name="f1"> <img src="/img/revistas/cpm/v32n2/32n2a03f1.jpg">     
<p>&nbsp;</p>     <p>onde k &eacute; a conductividade da solu&ccedil;&atilde;o, E &eacute; o campo el&eacute;ctrico na solu&ccedil;&atilde;o e ?V &eacute; a diferen&ccedil;a de potencial entre duas posi&ccedil;&otilde;es em solu&ccedil;&atilde;o distanciadas por ?r e alinhadas perpendicularmente com as placas de grafite. A <a href="#f2">figura 2a)</a> apresenta a densidade de corrente obtida para as duas solu&ccedil;&otilde;es, usando ?r = 20 &micro;m. Embora com bastante ru&iacute;do, de forma particulamente evidente para a solu&ccedil;&atilde;o de 0,5 M NaCl, o valor m&eacute;dio &eacute; semelhante e pode ser comparado com o valor te&oacute;rico, que &eacute; de 100 &micro;A / 1,5 cm<sup>2</sup> = 66,(6) &micro;A cm<sup>-2</sup> para a geometria de c&eacute;lula usada.</p>     <p>&nbsp;</p> <a name="f2"> <img src="/img/revistas/cpm/v32n2/32n2a03f2.jpg">     
<p>&nbsp;</p>     <p>O que se acaba de descrever &eacute; um exemplo de medida SRET. Uma variante desta t&eacute;cnica emprega dois el&eacute;ctrodos de refer&ecirc;ncia (por vezes el&eacute;ctrodos de ouro ou de platina com negro de platina) com posi&ccedil;&otilde;es fixas e ?r em geral entre 10 e 100 &micro;m [22, 29]. A diferen&ccedil;a de potencial entre os dois el&eacute;ctrodos &eacute; dada imediatamente e a densidade de corrente i &eacute; obtida pela multiplica&ccedil;&atilde;o por k. Outra variante da SRET consiste na modifica&ccedil;&atilde;o do sistema para o estudo de amostras cil&iacute;ndricas [30, 31].</p>     <p>Normalmente, a densidade de corrente dada pela SRET apresenta bastante ru&iacute;do, um problema que se agrava com o aumento da conductividade do meio usado. Pode-se reduzir significativamente o ru&iacute;do e aumentar a sensibilidade da t&eacute;cnica fazendo o el&eacute;ctrodo vibrar. Com a vibra&ccedil;&atilde;o o sinal medido passa a apresentar uma forma sinusoidal suscept&iacute;vel de ser amplificada e filtrada num amplificador lock-in. Esta &eacute; a base da t&eacute;cnica SVET e a principal diferen&ccedil;a em rela&ccedil;&atilde;o &agrave; SRET. O fundamento continua a ser uma medida de potencial, ?V, entre os extremos da vibra&ccedil;&atilde;o do el&eacute;ctrodo, ?r, usando-se a equa&ccedil;&atilde;o (1) para obter a densidade de corrente. A <a href="#f2">figura 2b)</a>  apresenta a corrente medida pela SVET nas condi&ccedil;&otilde;es experimentais anteriores verificandose um valor de corrente muito pr&oacute;ximo do te&oacute;rico mas com bastante menos ru&iacute;do quando comparado com os resultados SRET.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Ambas as t&eacute;cnicas d&atilde;o a conhecer as correntes i&oacute;nicas a partir de medidas do potencial em solu&ccedil;&atilde;o. A SVET tem como principais vantagens a maior sensibilidade e menor ru&iacute;do. Por outro lado, como o el&eacute;ctrodo da SRET n&atilde;o vibra e como pode ter uma extremidade bastante mais pequena (entre 0,1 e 1 &micro;m, enquanto o el&eacute;ctrodo da SVET raramente &eacute; inferior a 10 &micro;m), pode aproximar-se mais das fontes de corrente permitindo melhor resolu&ccedil;&atilde;o espacial.</p>     <p>&nbsp;</p>     <p><b>3. EXEMPLOS DE UTILIZA&Ccedil;&Atilde;O EM CORROS&Atilde;O</b></p>     <p>Na <a href="#f1">figura 1</a>, &acirc;nodo e c&aacute;todo encontram-se frente a frente. Em corros&atilde;o disp&otilde;em-se lado a lado, com as correntes em solu&ccedil;&atilde;o saindo e entrando na mesma superf&iacute;cie. Um exemplo &eacute; o par galv&acirc;nico zinco-ferro que se apresenta nas <a href="#f3">figura 3 a)</a> e <a href="#f3">3 b)</a>. Quando ligados electricamente num meio electrol&iacute;tico condutor, &agrave; temperatura ambiente, o zinco oxida-se protegendo o ferro que funciona como c&aacute;todo e onde o oxig&eacute;nio dissolvido em solu&ccedil;&atilde;o se reduz com a produ&ccedil;&atilde;o de OH-. O movimento de electr&otilde;es na fase met&aacute;lica do zinco para o ferro &eacute; acompanhado na fase aquosa por um fluxo de ani&otilde;es para o &acirc;nodo (zinco) e de cati&otilde;es para o c&aacute;todo (ferro). As <a href="#f3">figuras 3 c)</a> e <a href="#f3">d)</a>  mostram, respectivamente, mapas de potencial em solu&ccedil;&atilde;o (medido com um microel&eacute;ctrodo de refer&ecirc;ncia) e mapas de correntes i&oacute;nicas (medidas com a SVET) obtidos nos planos xy e xz em rela&ccedil;&atilde;o &agrave; superf&iacute;cie da amostra. A SVET detecta o fluxo ascendente dos cati&otilde;es resultantes do processo an&oacute;dico como corrente positiva (a vermelho nos mapas) e o fluxo ascendente de ani&otilde;es (OH-) do processo cat&oacute;dico como corrente negativa (a azul nos mapas). Na realidade, todas as esp&eacute;cies carregadas transportam a corrente e s&atilde;o respons&aacute;veis pelo sinal medido pela SVET. Junto aos el&eacute;ctrodos, dentro da chamada camada de difus&atilde;o, &eacute; importante a contribui&ccedil;&atilde;o do Zn<sup>2+</sup> e do OH<sup>-</sup>.</p>     <p>&nbsp;</p> <a name="f3"> <img src="/img/revistas/cpm/v32n2/32n2a03f3.jpg">     
<p>&nbsp;</p>     <p>A frac&ccedil;&atilde;o de corrente transportada pelo Na<sup>+</sup> e pelo Cl<sup>-</sup> (i&otilde;es que constituem a solu&ccedil;&atilde;o de ensaio) aumenta com a dist&acirc;ncia &agrave; superf&iacute;cie at&eacute; que no seio da solu&ccedil;&atilde;o a corrente &eacute; transportada essencialmente por estes i&otilde;es. As <a href="#f3">figura 3 e)</a> e <a href="#f3">3 f)</a> mostram ainda interpreta&ccedil;&otilde;es qu&iacute;mica e el&eacute;ctrica dos processos a ocorrer. Os esquemas n&atilde;o est&atilde;o &agrave; escala e devem ser entendidos apenas a t&iacute;tulo meramente ilustrativo.</p>     <p>Na c&eacute;lula usada, zinco e ferro foram dispostos de forma a ter-se os processos an&oacute;dico e cat&oacute;dico separados e bem localizados a fim de se entender facilmente os resultados fornecidos pelas duas t&eacute;cnicas. Uma combina&ccedil;&atilde;o mais comum destes dois metais &eacute; o revestimento de a&ccedil;o por camadas de zinco. A <a href="#f4">figura 4</a> mostra um a&ccedil;o electrozincado ap&oacute;s 24 horas de imers&atilde;o em NaCl 0,05 M e v&aacute;rias formas de apresentar o mesmo resultado obtido pela SVET. A corros&atilde;o do zinco ocorreu de forma localizada atingindo a base de a&ccedil;o em v&aacute;rios pontos da superf&iacute;cie. O equipamento SVET utilizado permite a medi&ccedil;&atilde;o do campo el&eacute;ctrico em duas direc&ccedil;&otilde;es (x e z) o que permite a apresenta&ccedil;&atilde;o da corrente na forma de vectores 2D. Em corros&atilde;o, no entanto, &eacute; costume utilizar apenas a componente da corrente perpendicular &agrave; superf&iacute;cie da amostra pois os mapas resultantes d&atilde;o uma boa ideia da distribui&ccedil;&atilde;o espacial dos processos an&oacute;dico e cat&oacute;dico.</p>     <p>&nbsp;</p> <a name="f4"> <img src="/img/revistas/cpm/v32n2/32n2a03f4.jpg">     
<p>&nbsp;</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Amostras homog&eacute;neas de um mesmo metal puro ou liga tamb&eacute;m podem ser estudadas pela SVET desde que as regi&otilde;es an&oacute;dicas e cat&oacute;dicas sejam de dimens&otilde;es pass&iacute;veis de ser resolvidas pela t&eacute;cnica. Se a corros&atilde;o n&atilde;o for muito r&aacute;pida, &eacute; poss&iacute;vel seguir a evolu&ccedil;&atilde;o espacial e temporal dos processos durante a degrada&ccedil;&atilde;o da amostra, como se exemplifica na <a href="#f5">figura 5</a>, com v&aacute;rios instantes da corros&atilde;o de uma amostra de a&ccedil;o macio durante as primeiras 24 horas de imers&atilde;o em NaCl 0,05 M.</p>     <p>&nbsp;</p> <a name="f5"> <img src="/img/revistas/cpm/v32n2/32n2a03f5.jpg">     
<p>&nbsp;</p>     <p>A SVET pode ser vista como uma t&eacute;cnica de visualiza&ccedil;&atilde;o da corros&atilde;o e poder-se-ia argumentar que o mesmo &eacute; conseguido simplesmente com uma c&acirc;mara que registe a evolu&ccedil;&atilde;o do processo ao longo do tempo. A <a href="#f5">figura 5</a> mostra, no entanto, de forma clara, algumas das vantagens da SVET como forma de visualiza&ccedil;&atilde;o complementar &agrave; imagem &oacute;ptica. A SVET detecta a actividade antes dela se revelar a olho n&uacute; ou ao microsc&oacute;pio. Note-se como aos 5 minutos de imers&atilde;o a imagem &oacute;ptica apresenta a superf&iacute;cie ainda intacta enquanto a SVET j&aacute; detecta os processos que est&atilde;o a ocorrer, sendo o resultado destes apenas vis&iacute;vel mais tarde (compare-se o mapa SVET aos 5 minutos com a superf&iacute;cie da amostra aos 30 minutos). Por outro lado, as imagens &oacute;pticas mostram o processo corrosivo acumulado at&eacute; ao momento da sua aquisi&ccedil;&atilde;o sem distinguir as partes da superf&iacute;cie que est&atilde;o activas nesse instante. A SVET, por seu lado, mostra a actividade “instant&acirc;nea”, ou seja, aquela que de facto ocorre durante a obten&ccedil;&atilde;o do mapa (5 a 30 minutos s&atilde;o tempos t&iacute;picos, dependendo no n&uacute;mero de pontos e do tempo de integra&ccedil;&atilde;o em cada ponto), distinguindo as zonas an&oacute;dicas e cat&oacute;dicas e dando uma medida semi-quantitativa sobre as respectivas actividades.</p>     <p>&nbsp;</p>     <p><b>4. ALGUNS C&Aacute;LCULOS</b></p>     <p>Como o demonstram os resultados anteriores, a SVET &eacute; uma t&eacute;cnica bastante &uacute;til para a visualiza&ccedil;&atilde;o dos processos corrosivos, mas por vezes h&aacute; o interesse em explorar um pouco mais e tentar usar os resultados para obter informa&ccedil;&atilde;o quantitativa e, inclusivamente, estimar a corrente de corros&atilde;o. Apresenta-se nesta sec&ccedil;&atilde;o alguns dos c&aacute;lculos poss&iacute;veis e as limita&ccedil;&otilde;es inerentes aos resultados da SVET, utilizando a <a href="#f6">figura 6</a> como exemplo.</p>     <p>&nbsp;</p> <a name="f6"> <img src="/img/revistas/cpm/v32n2/32n2a03f6.jpg">     
<p>&nbsp;</p>     <p><b>4.1. Corrente que passa num ponto medido pela SVET</b></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>A densidade de corrente no ponto indicado na <a href="#f6">figura 6</a> &eacute; de 26 mA cm<sup>-2</sup>. Significa que o campo el&eacute;ctrico sentido pela SVET nesse ponto &eacute; igual ao campo el&eacute;ctrico gerado por uma corrente de 26 mA que passa numa &aacute;rea de 1 cm<sup>2</sup> num meio com a mesma conductividade. Para determinar a corrente absoluta que passa nesse ponto &eacute; necess&aacute;rio conhecer a &aacute;rea correspondente ao ponto de medida, que pode ser obtida dividindo a &aacute;rea do mapa pelo n&uacute;mero de pontos. Neste exemplo, a &aacute;rea do mapa &eacute; 0,3850 cm x 0,4440 cm = 0,1710 cm<sup>2</sup> e o n&uacute;mero de pontos &eacute; 1600 (40 x 40), pelo que &aacute;rea corespondente a cada ponto &eacute; 1,07 x 10-4 cm<sup>2</sup>. A corrente absoluta que passa naquele ponto &eacute; portanto (26 mA cm<sup>-2</sup>) x (1,07 x 10-4 cm<sup>2</sup>) = 0,00278 mA (2,78 nA). Um n&uacute;mero maior de pontos aumenta a resolu&ccedil;&atilde;o do mapa. A corrente total, correspondente &agrave; &aacute;rea total do mapa, obviamente, permanece a mesma.</p>     <p><b>4.2. Correla&ccedil;&atilde;o entre a corrente medida em solu&ccedil;&atilde;o com a corrente na fonte que lhe d&aacute; origem</b></p>     <p>A SVET mede as correntes i&oacute;nicas em solu&ccedil;&atilde;o que atravessam um plano que se encontra tipicamente a 100-200 mm acima da superf&iacute;ce met&aacute;lica (plano de medi&ccedil;&atilde;o). Em geral n&atilde;o &eacute; essa corrente que se pretende conhecer mas sim a corrente que atravessa a interface metal-solu&ccedil;&atilde;o. N&atilde;o &eacute; f&aacute;cil correlaccionar as duas quantidades. De facto, a correla&ccedil;&atilde;o s&oacute; &eacute; simples para uma fonte de corrente pontual, ou seja, um ponto diminuto que debita a corrente para um contra-el&eacute;ctrodo distante. Se a fonte pontual de corrente estiver embutida numa superf&iacute;cie plana n&atilde;o condutora, a corrente <i>I</i> debitada pela fonte que origina a densidade de corrente medida pela SVET, <i>i<sub>SVET</sub></i>, pode ser calculada por,</p> <img src="/img/revistas/cpm/v32n2/32n2a03e2.jpg">     
<p>onde r &eacute; a dist&acirc;ncia da sonda &agrave; superf&iacute;cie. Se se admitir que o pico de densidade de corrente considerado na <a href="#f6">figura 6</a> &eacute; criado apenas por uma &uacute;nica picada, rodeada por uma &aacute;rea cat&oacute;dica, sabendo que o mapa foi obtido a 200 &micro;m da superf&iacute;cie, pode-se tentar usar a equa&ccedil;&atilde;o (2): I = (2) (p) (200 x 10-4 cm)2 (26 mA cm<sup>-2</sup>) = 65 nA. Esta &eacute; a corrente absoluta, gerada naquele ponto da superf&iacute;cie met&aacute;lica, que d&aacute; origem &agrave; densidade de corrente medida pela SVET naquele ponto do mapa. Este c&aacute;lculo estaria correcto se s&oacute; houvesse aquele ponto activo na superf&iacute;cie. No entanto, toda a amostra est&aacute; activa e a corrente da amostra corresponde &agrave; actividade de todos os pontos da superf&iacute;cie. H&aacute; pontos com actividade an&oacute;dica, ou cat&oacute;dica, com intensidades distintas, pontos sem actividade, pontos isolados e pontos agrupados em regi&otilde;es com a mesma actividade.</p>     <p><b>4.3. Corrente na superf&iacute;cie da amostra</b></p>     <p>A determina&ccedil;&atilde;o da corrente em toda a amostra a fim de obter um valor de corrente de corros&atilde;o que possa ser comparado com os valores obtidos por outras t&eacute;cnicas &eacute; uma tarefa dif&iacute;cil que requer simula&ccedil;&atilde;o num&eacute;rica. Em alternativa, v&aacute;rios autores t&ecirc;m tentado uma abordagem aproximada e fal&iacute;vel. O procedimento consiste no somat&oacute;rio das correntes (n&atilde;o densidades de corrente) de todos os pontos positivos (ou todos os pontos negativos) de onde resulta a corrente da amostra. A divis&atilde;o da corrente total pela &aacute;rea da amostra d&aacute; a densidade da corrente da amostra. As correntes positivas e negativas assim obtidas dever&atilde;o cancelar-se.</p>     <p>&nbsp;</p>     <p><b>5. LIMITA&Ccedil;&Otilde;ES</b></p>     <p>O procedimento descrito em 4.3. raramente conduz a resultados aceit&aacute;veis por quatro raz&otilde;es principais:</p>     <p>i) As medidas n&atilde;o s&atilde;o feitas na superf&iacute;cie do metal mas a uma determinada dist&acirc;ncia acima dela. A t&eacute;cnica n&atilde;o contabiliza a corrente que flui entre &acirc;nodos e c&aacute;todos abaixo dessa altura, como esquematizado na <a href="#f7">figura 7 a)</a> .</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>&nbsp;</p> <a name="f7"> <img src="/img/revistas/cpm/v32n2/32n2a03f7.jpg">     
<p>&nbsp;</p>     <p>ii) A corrente que ascende e atravessa o plano de medi&ccedil;&atilde;o regressa &agrave; superf&iacute;cie atravessando de novo esse plano em sentido contr&aacute;rio. O regresso poder&aacute; ocorrer fora da regi&atilde;o mapeada e essa corrente n&atilde;o &eacute; medida, como se exemplifica na <a href="#f7">figura 7 b)</a> . &Eacute; o caso de correntes an&oacute;dicas localizadas e muito intensas rodeadas por &aacute;reas cat&oacute;dicas bem maiores e com correntes pequenas.</p>     <p>iii) A terceira raz&atilde;o est&aacute; relacionada com a sensibilidade da t&eacute;cnica. O n&iacute;vel de ru&iacute;do da SVET na gama de solu&ccedil;&otilde;es t&iacute;picas de ensaio (0,01 - 0,1 M) &eacute; cerca de 1 &micro;A cm<sup>-2</sup>. Significa que correntes inferiores n&atilde;o s&atilde;o detectadas. As correntes de grandes &aacute;reas cat&oacute;dicas apresentam valores dessa ordem de grandeza ou mesmo inferiores.</p>     <p>iv) A &uacute;ltima raz&atilde;o costuma ser esquecida: a corrente flui nas tr&ecirc;s direc&ccedil;&otilde;es, mas habitualmente s&oacute; se usa a componente z da densidade de corrente (<a href="#f7">figura 7 b)</a> , pelo que a corrente medida &eacute; quase sempre subestimada e raramente as correntes positivas e negativas se cancelam.</p>     <p>Torna-se evidente que embora a SVET possa ser usada para estimar velocidades de corros&atilde;o, os valores estimados t&ecirc;m associado um elevado grau de incerteza. A fiabilidade desses valores necessita de ser confirmada por um segundo m&eacute;todo, tipicamente curvas de polariza&ccedil;&atilde;o ou espectroscopia de imped&acirc;ncia electroqu&iacute;mica, o que torna a SVET redundante e escusada para esse fim.</p>     <p>Estas limita&ccedil;&otilde;es permitem concluir que a SVET deve ser vista como uma t&eacute;cnica semi-quantitativa para visualiza&ccedil;&atilde;o da corros&atilde;o, n&atilde;o um m&eacute;todo para determinar velocidades de corros&atilde;o.</p>     <p>&nbsp;</p>     <p><b>6. MODELA&Ccedil;&Atilde;O E SIMULA&Ccedil;&Atilde;O</b></p>     <p>Para ultrapassar as limita&ccedil;&otilde;es referidas na sec&ccedil;&atilde;o anterior &eacute; necess&aacute;rio recorrer a simula&ccedil;&atilde;o num&eacute;rica. Esta &eacute; necess&aacute;ria mesmo para uma geometria aparentemente simples como um disco. Isaacs reviu e comparou equa&ccedil;&otilde;es para o caso de uma fonte pontual de corrente, um disco de corrente uniforme e um disco de potencial constante [32]. Os resultados das equa&ccedil;&otilde;es para os tr&ecirc;s casos coincidem quando a dist&acirc;ncia &agrave; superf&iacute;cie &eacute; superior a duas vezes o raio do disco. As diferen&ccedil;as para dist&acirc;ncias inferiores podem ser entendidas &agrave; luz da distribui&ccedil;&atilde;o da corrente, prim&aacute;ria, secund&aacute;ria ou terci&aacute;ria [33, 34].</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>A distribui&ccedil;&atilde;o prim&aacute;ria, a mais simples de tratar matematicamente, depende unicamente da geometria da c&eacute;lula, incluindo o tamanho e forma dos el&eacute;ctrodos, mas normalmente s&oacute; &eacute; aplic&aacute;vel a fontes pontuais de corrente ou quando se analisam regi&otilde;es em solu&ccedil;&atilde;o afastadas dos el&eacute;ctrodos. Na maioria dos casos a polariza&ccedil;&atilde;o dos el&eacute;ctrodos determina a distribui&ccedil;&atilde;o espacial do potencial e da corrente e tem que ser tida em conta nos c&aacute;lculos. Nestas condi&ccedil;&otilde;es a distribui&ccedil;&atilde;o &eacute; chamada de secund&aacute;ria. Quando a sonda est&aacute; bastante perto da superf&iacute;cie, h&aacute; ainda a considerar os gradientes de concentra&ccedil;&atilde;o das esp&eacute;cies carregadas geradas ou consumidas no el&eacute;ctrodo que s&oacute; s&atilde;o devidamente contabilizados quando se considera a distribui&ccedil;&atilde;o terci&aacute;ria. Excepto para casos muito simples, &eacute; necess&aacute;rio recorrer a simula&ccedil;&atilde;o num&eacute;rica para relacionar os processos na superf&iacute;cie com os que tem lugar em solu&ccedil;&atilde;o. Existem pacotes comerciais, como por exemplo o COMSOL Multiphysics ou o MAT LAB, que podem ser usados na simula&ccedil;&atilde;o destes casos, recorrendo ao m&eacute;todo dos elementos finitos ou dos elementos fronteira. Cabe ainda referir aqui um conjunto de artigos publicados nos anos 50 do s&eacute;culo XX onde se analisou matematicamente a distribui&ccedil;&atilde;o de corrente e potencial em solu&ccedil;&atilde;o para v&aacute;rios tipos de c&eacute;lula (Wagner, [35]) e casos de corros&atilde;o (Waber, [36]).</p>     <p>&nbsp;</p>     <p><b>7. INSTRUMENTA&Ccedil;&Atilde;O E DETALHES EXPERIMENTAIS</b></p>     <p>H&aacute; apenas dois instrumentos SVET dispon&iacute;veis no mercado, um da empresa Uniscan [37] e outro da empresa Applicable Electronics Inc. [38]. A japonesa Hokuto-Denko chegou a comercializar um modelo na d&eacute;cada de 1990. Al&eacute;m destes, v&aacute;rios equipamentos foram desenvolvidos no passado pelos pr&oacute;prios investigadores [3-5, 39-41].</p>     <p>Todos os resultados apresentados neste artigo foram obtidos com o equipamento da Applicable Electronics (AE). A informa&ccedil;&atilde;o que se segue refere-se apenas a esse aparelho porque os autores n&atilde;o conhecem detalhes sobre a opera&ccedil;&atilde;o do equipamento da Uniscan. Embora o princ&iacute;pio de funcionamento seja o mesmo, os detalhes t&eacute;cnicos s&atilde;o certamente diferentes. Talvez as principais diferen&ccedil;as entre os dois sejam a dupla vibra&ccedil;&atilde;o no caso da AE, o tamanho das &aacute;reas mapeadas (mil&iacute;metros para a AE, cent&iacute;metros para a Uniscan) e a maior facilidade de conjugar o equipamento da AE com outras t&eacute;cnicas e aparelhos.</p>     <p>O equipamento da AE foi desenvolvido para aplica&ccedil;&otilde;es em biologia e baseia-se no instrumento descrito em [5]. Na <a href="#f8">figura 8 a)</a>  mostra-se o el&eacute;ctrodo vibrante, geralmente uma haste met&aacute;lica de platina-ir&iacute;dio (80%/20%) com 1,5 cm de comprimento e 250 &micro;m de di&acirc;metro, afilada na extremidade e revestida por uma camada de 3 &micro;m de parylene-C, um pol&iacute;mero aplicado por deposi&ccedil;&atilde;o qu&iacute;mica em fase vapor. A extremidade do el&eacute;ctrodo tem cerca de 3 &micro;m e &eacute; o &uacute;nico ponto onde o revestimento foi removido, por interm&eacute;dio de um arco voltaico. Estes el&eacute;ctrodos s&atilde;o produzidos pela empresa Microprobes [42] e a principal aplica&ccedil;&atilde;o &eacute; a neuroestimula&ccedil;&atilde;o. Para poderem ser utilizados como el&eacute;ctrodos SVET &eacute; necess&aacute;rio aumentar a &aacute;rea electricamente activa, o que &eacute; conseguido pela forma&ccedil;&atilde;o de um dep&oacute;sito de negro de platina electrodepositado a partir de &aacute;cido hexacloroplat&iacute;nico. A c&eacute;lula electroqu&iacute;mica t&iacute;pica para uma medida SVET encontra-se na <a href="#f8">figura 8 b)</a> , com a superf&iacute;cie da amostra isolada, excepto a &aacute;rea a mapear, colada num suporte n&atilde;o condutor de 3 cm de di&acirc;metro e fita adesiva em redor do suporte, onde se coloca a solu&ccedil;&atilde;o de ensaio. A medi&ccedil;&atilde;o de potencial ocorre entre o el&eacute;ctrodo vibrante e um fio de platina com negro de platina que funciona como refer&ecirc;ncia. Um segundo fio de platina platinizado &eacute; a liga&ccedil;&atilde;o &agrave; t erra do transistor de efeito de campo de dupla jun&ccedil;&atilde;o ( JFET U401) que se encontra num pr&eacute;-amplificador e que &eacute; o centro da medi&ccedil;&atilde;o SVET.</p>     <p>&nbsp;</p> <a name="f8"> <img src="/img/revistas/cpm/v32n2/32n2a03f8.jpg">     
<p>&nbsp;</p>     <p>O sistema completo est&aacute; esquematizado na <a href="#f8">figura 8 c)</a>  e consiste numa c&acirc;mara de v&iacute;deo que permite controlar a posi&ccedil;&atilde;o do el&eacute;ctrodo e obter imagens da amostra, um sistema de motores que posiciona e movimenta o microel&eacute;ctrodo com 1 &micro;m de precis&atilde;o, um pr&eacute;-amplificador e um amplificador IPA-2 que integra dois amplificadores lock-in, um para cada vibra&ccedil;&atilde;o. O microel&eacute;ctrodo &eacute; colocado na extremidade de um bra&ccedil;o de pl&aacute;stico estando a outra extremidade ligada a dois osciladores piezoelectr&oacute;nicos que s&atilde;o respons&aacute;veis pelas vibra&ccedil;&otilde;es x e z (frequ&ecirc;ncias seleccion&aacute;veis entre 40 e 1000 Hz). Todo o processo &eacute; controlado pelo software ASET desenvolvido pela empresa Sciencewares [43]. Uma mesa anti-vibra&ccedil;&atilde;o, uma gaiola de Faraday e uma unidade de alimenta&ccedil;&atilde;o ininterrupta com filtragem da corrente de alimenta&ccedil;&atilde;o s&atilde;o opcionais mas recomendadas para o &oacute;ptimo desempenho.</p>     <p>Como o sistema mede diferen&ccedil;as de potencial e apresenta os resultados na forma de densidades de corrente, &eacute; necess&aacute;ria uma calibra&ccedil;&atilde;o pr&eacute;via para relacionar as duas quantidades. Para tal, a sonda &eacute; posicionada a uma determinada dist&acirc;ncia (geralmente 150 &micro;m) de uma fonte de corrente pontual que debita uma corrente I conhecida (geralmente 60 nA). A densidade de corrente i &agrave; dist&acirc;ncia r</p> <img src="/img/revistas/cpm/v32n2/32n2a03e3.jpg">     
]]></body>
<body><![CDATA[<p>O sistema mede a diferen&ccedil;a de potencial e determina o factor de proporcionalidade relactivamente &agrave; densidade de corrente i. Este factor de proporcionalidade depende da conductividade da solu&ccedil;&atilde;o, da amplifica&ccedil;&atilde;o do sistema, da frequ&ecirc;ncia e da amplitude da vibra&ccedil;&atilde;o. Enquanto a frequ&ecirc;ncia e a amplitude de vibra&ccedil;&atilde;o n&atilde;o forem alteradas a calibra&ccedil;&atilde;o permanece v&aacute;lida sendo apenas necess&aacute;rio introduzir o valor correcto da conductividade da solu&ccedil;&atilde;o em uso. O sistema da AE faz a medi&ccedil;&atilde;o em duas direc&ccedil;&otilde;es ortogonais. Al&eacute;m disso, o sistema adquire os sinais em fase e em quadratura a fim de compensar quaisquer desvios &agrave; perpendicularidade dos eixos de vibra&ccedil;&atilde;o. O c&aacute;lculo recorre a uma matriz de calibra&ccedil;&atilde;o, como descrito em [5]. Deve referir-se que al&eacute;m desta rotina de calibra&ccedil;&atilde;o, que &eacute; a mais comum, existem outras, descritas nas refer&ecirc;ncias [6] e [45].</p>     <p>&nbsp;</p>     <p><b>8. ALGUMAS QUEST&Otilde;ES OPERACIONAIS</b></p>     <p><b>8.1. Sensibilidade</b></p>     <p>A sensibilidade da SVET, entendida como a menor corrente discriminada acima no n&iacute;vel de ru&iacute;do, depende directamente da conductividade do meio. Se o que interessa &eacute; a corrente m&iacute;nima na superf&iacute;cie met&aacute;lica que pode ser detectada pela SVET, ent&atilde;o esse valor depende tamb&eacute;m da dist&acirc;ncia entre a superf&iacute;cie e o ponto de medida. A <a href="#t1">Tabela 1</a> apresenta valores experimentais medidos usando uma fonte pontual de corrente (micropipeta de vidro com uma abertura de 2 &micro;m de di&acirc;metro, cheia com a mesma solu&ccedil;&atilde;o de ensaio, tendo no interior um fio de platina com negro de platina por onde a corrente entra em solu&ccedil;&atilde;o). A SVET consegue medir com fiabilidade correntes em solu&ccedil;&atilde;o que sejam no m&iacute;nimo duas vezes o n&iacute;vel de ru&iacute;do. Para os meios de ensaio mais comuns (0,01 - 0,1 M NaCl) a sensibilidade da SVET em solu&ccedil;&atilde;o ronda os 1-2 &micro;A cm<sup>-2</sup> a que corresponde uma corrente na fonte de 2 a 10 nA.</p>     <p>&nbsp;</p> <a name="t1"> <img src="/img/revistas/cpm/v32n2/32n2a03t1.jpg">     
<p>&nbsp;</p>     <p><b>8.2. Resolu&ccedil;&atilde;o espacial</b></p>     <p>Definindo a resolu&ccedil;&atilde;o espacial como a dist&acirc;ncia m&iacute;nima entre duas fontes pontuais de igual corrente que conseguem ser distinguidas, pode dizer-se que &eacute; dif&iacute;cil de estabelecer um valor concreto pois este depende de v&aacute;rios factores, principalmente da dist&acirc;ncia &agrave; superf&iacute;cie e da conductividade do meio, mas tamb&eacute;m do tamanho da sonda e da amplitude da vibra&ccedil;&atilde;o. Uma regra &eacute; considerar que a SVET s&oacute; separar&aacute; o sinal das duas fontes quando se encontrar a uma dist&acirc;ncia da superf&iacute;cie igual ou inferior a metade da dist&acirc;ncia entre elas. Um exemplo: para que 2 pontos separados 200 &micro;m sejam discriminados &eacute; necess&aacute;rio que a sonda esteja no m&aacute;ximo a 100 &micro;m da superf&iacute;cie. Ainda outro exemplo: Isaacs mostrou [32] que o sinal medido pela SVET acima de um ponto ou de um disco que debitam a mesma corrente absoluta &eacute; igual quando a sonda est&aacute; a uma dist&acirc;ncia superior a duas vezes o raio do disco. Concretizando: se a sonda se encontrar a 100 &micro;m da super f&iacute;cie, obter-se-&aacute; o mesmo mapa quer a fonte de corrente seja um ponto quer seja um disco de 100 &micro;m de di&acirc;metro, desde que a corrente absoluta produzida por ambos seja a mesma. Para os distinguir, a sonda ter&aacute; de se aproximar da superf&iacute;cie.</p>     <p><b>8.3. Influ&ecirc;ncia da vibra&ccedil;&atilde;o</b></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>H&aacute; quatro aspectos a considerar acerca da vibra&ccedil;&atilde;o da SVET:</p>     <p>i) O primeiro refere-se &agrave; sua capacidade de agitar a solu&ccedil;&atilde;o homogeneizando localmente a composi&ccedil;&atilde;o qu&iacute;mica. Esse efeito foi estudado por Lucas e Ferrier [46] que concluiram que os v&oacute;rtices criados pela vibra&ccedil;&atilde;o do el&eacute;ctrodo alteram a concentra&ccedil;&atilde;o das esp&eacute;cies qu&iacute;micas na sua vizinhan&ccedil;a mas n&atilde;o a densidade de corrente local.</p>     <p>ii) A agita&ccedil;&atilde;o da solu&ccedil;&atilde;o aumenta o transporte por convec&ccedil;&atilde;o sendo particularmente importante no transporte do oxig&eacute;nio dissolvido em solu&ccedil;&atilde;o at&eacute; &agrave; superf&iacute;cie met&aacute;lica. Este efeito foi estudado por McMurray, Williams e Worsley [47] com um sistema SVET diferente do usado aqui. Na SVET da AE, em medidas feitas a 100 &micro;m, a corrente de redu&ccedil;&atilde;o do oxig&eacute;nio duplica-se momentaneamente quando a SVET vibra por cima do c&aacute;todo [48].</p>     <p>iii) Isaacs estudou a rela&ccedil;&atilde;o entre a amplitude da vibra&ccedil;&atilde;o e a dist&acirc;ncia m&eacute;dia da sonda &agrave; superf&iacute;cie e concluiu que quando a sonda se aproxima uma dist&acirc;ncia inferior a 4 vezes a amplitude da vibra&ccedil;&atilde;o, o sinal medido &eacute; sobreestimado [49]. Para a vibra&ccedil;&atilde;o t&iacute;pica da SVET este problema s&oacute; existe quando a sonda est&aacute; a menos de 50 &micro;m da superf&iacute;cie, o que raramente se verifica na pr&aacute;tica.</p>     <p>iv) Um &uacute;ltimo aspecto a referir &eacute; o risco do n&atilde;o alinhamento do eixo da vibra&ccedil;&atilde;o com a normal &agrave; fonte de corrente. Este aspecto j&aacute; foi estudado [12, 50] e os autores consideraram que desvios at&eacute; 30&ordm; n&atilde;o s&atilde;o significativos. Como referido na sec&ccedil;&atilde;o 7., a calibra&ccedil;&atilde;o do sistema da AE mede o sinal em fase e em quadratura precisamente para compensar desvios &agrave; ortogonalidade. Naturalmente, n&atilde;o compensa situa&ccedil;&otilde;es em que a amostra esteja inadvertidamente inclinada ou apresente relevo significativo.</p>     <p><b>8.4. An&aacute;lise de subtratos met&aacute;licos com revestimentos org&acirc;nicos</b></p>     <p>A aplica&ccedil;&atilde;o desta t&eacute;cnica na caracteriza&ccedil;&atilde;o da corros&atilde;o em sistemas de pintura tem merecido grande interesse mas o seu uso &eacute; bastante limitado. A SVET s&oacute; consegue medir a corrente que flui atrav&eacute;s de defeitos ou descontinuidades no revestimento org&acirc;nico. Al&eacute;m disso, se o revestimento for espesso (> 500 &micro;m), a sonda estar&aacute; bastante afastada da fonte de corrente (superf&iacute;cie met&aacute;lica) e &eacute; poss&iacute;vel que n&atilde;o detecte qualquer sinal. Pela mesma raz&atilde;o &eacute; raro medir-se algum sinal em empolamentos dos revestimento org&acirc;nicos.</p>     <p>&nbsp;</p>     <p><b>9. COMBINA&Ccedil;&Atilde;O DA SVET COM OUTRAS T&Eacute;CNICAS</b></p>     <p>A SVET mede as correntes i&oacute;nicas em solu&ccedil;&atilde;o mas n&atilde;o d&aacute; informa&ccedil;&atilde;o sobre a identidade das esp&eacute;cies envolvidas no processo. Isso poder&aacute; ser obtido atrav&eacute;s de microel&eacute;ctrodos potenciom&eacute;tricos e amperom&eacute;tricos. Uma vantagem do equipamento SVET da AE &eacute; que a adi&ccedil;&atilde;o de apenas um m&oacute;dulo e respectivos microel&eacute;ctrodos &eacute; suficiente para a realiza&ccedil;&atilde;o de medidas micropotenciom&eacute;tricas e microamperom&eacute;tricas.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>Apresenta-se aqui um exemplo do uso complementar da SVET com a medi&ccedil;&atilde;o potenciom&eacute;trica de pH e amperom&eacute;trica do O<sub>2</sub> dissolvido em solu&ccedil;&atilde;o. Neste exemplo, amostras da liga de alum&iacute;nio 2024-T3, liga de aplica&ccedil;&atilde;o bastante comum em aeron&aacute;utica, foram revestidas com um filme produzido pela tecnologia sol-gel. Isolou-se a amostra deixando apenas uma janela de 3 x 3 mm2 exposta &agrave; solu&ccedil;&atilde;o e produziram-se dois defeitos no revestimento de modo que o substrato met&aacute;lico ficasse exposto apenas nesses dois pontos. Deixou-se a amostra corroer em NaCl 0,05 M durante 20 horas ap&oacute;s as quais se adicionou um inibidor de corros&atilde;o, nitrato de c&eacute;rio. A <a href="#f9">figura 9</a> apresenta a corrente em solu&ccedil;&atilde;o, o pH e a corrente de redu&ccedil;&atilde;o de O<sub>2</sub> na sonda amperom&eacute;trica, medidos antes e ap&oacute;s a inibi&ccedil;&atilde;o. As correntes i&oacute;nicas medidas pela SVET antes da inibi&ccedil;&atilde;o mostram um pico positivo sobre um defeito, que se passa a chamar an&oacute;dico, e um pico negativo sobre o outro defeito, doravante chamado de cat&oacute;dico. O pH da solu&ccedil;&atilde;o aumentou significativamente sobre o defeito cat&oacute;dico (onde se produz OH-) mas n&atilde;o se alterou sobre o defeito an&oacute;dico. A corrente de redu&ccedil;&atilde;o do O<sub>2</sub> foi constante excepto sobre os dois defeitos, onde diminuiu. Esta diminui&ccedil;&atilde;o deve-se &agrave; menor concentra&ccedil;&atilde;o local de O<sub>2</sub> uma vez que este &eacute; consumido na superf&iacute;cie met&aacute;lica exposta. Verifica-se que a actividade cat&oacute;dica tem lugar nos dois defeitos, incluindo aquele considerado an&oacute;dico pela SVET. Existindo O<sub>2</sub> em toda a solu&ccedil;&atilde;o e estando a superf&iacute;cie a um potencial onde ele se pode reduzir, a reac&ccedil;&atilde;o ocorrer&aacute;, embora a velocidade de reac&ccedil;&atilde;o possa ser diferente nos dois defeitos. As medi&ccedil;&otilde;es efectuadas 20 horas ap&oacute;s a adi&ccedil;&atilde;o de inibidor mostram valores constantes e iguais aos do seio da solu&ccedil;&atilde;o, o que &eacute; interpretado como sendo resultado da inibi&ccedil;&atilde;o, que isolou o metal do meio, impedindo qualquer actividade na superf&iacute;cie da amostra que alterasse a qu&iacute;mica da solu&ccedil;&atilde;o. O trabalho completo est&aacute; publicado em [51] e outros exemplos podem ser encontrados nas refer&ecirc;ncias [52-53]. Estes resultados revelam o benef&iacute;cio de combinar as v&aacute;rias t&eacute;cnicas, pois cada uma acresenta uma frac&ccedil;&atilde;o de informa&ccedil;&atilde;o que reunida d&aacute; uma imagem mais completa sobre o sistema em estudo.</p>     <p>&nbsp;</p> <a name="f9"> <img src="/img/revistas/cpm/v32n2/32n2a03f9.jpg">     
<p>&nbsp;</p>     <p>Em todos os exemplos de corros&atilde;o apresentados, as amostras corroeram naturalmente, sem aplica&ccedil;&atilde;o externa de potencial. Contudo, as amostras podem ser polarizadas usando um potenciostato enquanto a SVET mede as correntes resultantes, como mostra a <a href="#f10">figura 10</a> para o caso de um el&eacute;ctrodo de ferro puro com mapas obtidos a v&aacute;rios potenciais. Ao potencial em circuito aberto, potencial de corros&atilde;o, o el&eacute;ctrodo apresenta zonas an&oacute;dicas e cat&oacute;dicas. Polariza&ccedil;&otilde;es an&oacute;dicas ou cat&oacute;dicas promovem, respectivamente, oxida&ccedil;&otilde;es ou redu&ccedil;&otilde;es, com a corrente a variar logaritmicamente com a polariza&ccedil;&atilde;o. O mesmo procedimento poderia ser realizado com el&eacute;ctrodos inertes, como platina por exemplo, em estudos t&iacute;picos de electroqu&iacute;mica mas, em geral, nesses estudos pretende-se uma distribui&ccedil;&atilde;o de corrente uniforme (para as quais as medidas de SVET n&atilde;o s&atilde;o interessantes) e adiciona-se electr&oacute;lito de suporte em abund&acirc;ncia para eliminar a componente de migra&ccedil;&atilde;o (precisamente o que &eacute; medido pela SVET). Actualmente, quando a informa&ccedil;&atilde;o localizada interessa em estudos de electroqu&iacute;mica, tem-se recorrido &agrave; microscopia electroqu&iacute;mica (SECM, Scanning Electrochemical Microscopy) [54].</p>     <p>&nbsp;</p> <a name="f10"> <img src="/img/revistas/cpm/v32n2/32n2a03f10.jpg">     
<p>&nbsp;</p>     <p><b>10. CONCLUS&Otilde;ES</b></p>     <p>Pretendeu-se dar a conhecer a t&eacute;cnica SVET e a sua aplica&ccedil;&atilde;o em estudos de corros&atilde;o. Os exemplos apresentados foram criteriosamente seleccionados para uma melhor compreens&atilde;o do princ&iacute;pio de funcionamento da t&eacute;cnica, as particularidades de que se reveste o seu uso, as vantagens e as limita&ccedil;&otilde;es. N&atilde;o se deu &ecirc;nfase aos detalhes t&eacute;cnicos ou de opera&ccedil;&atilde;o porque muitos deles s&atilde;o inerentes ao instrumento usado e interessam principalmente a quem opera o equipamento. Tamb&eacute;m n&atilde;o se fez uma revis&atilde;o bibliogr&aacute;fica dos trabalhos publicados com a SVET. O leitor interessado poder&aacute; consultar as refer&ecirc;ncias [27, 28]. Espera-se que estas p&aacute;ginas sejam suficientes para se entender a t&eacute;cnica e as suas especificidades bem como para decidir quando o seu uso &eacute; ou n&atilde;o proveitoso. Termina-se reiterando que a SVET deve ser vista como uma t&eacute;cnica de visualiza&ccedil;&atilde;o da corros&atilde;o, poderosa e vers&aacute;til, mas vincando que o uso para medidas e c&aacute;lculos quantitativos dever&aacute; ser feito de forma extremamente cuidadosa e esclarecida.</p>     <p>&nbsp;</p>     <p><b>REFER&Ecirc;NCIAS</b></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>[1] O. Bluh, B. I. H. Scott, Rev. Sci. Instrum., 21, 867 (1959).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000113&pid=S0870-1164201300020000300001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[2] P. W. Davies, Fed. Proc., 25, 332 (1966).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000115&pid=S0870-1164201300020000300002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[3] L. F. Jaffe and R. Nucitelli, J. Cell Biology, 63, 614 (1974).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000117&pid=S0870-1164201300020000300003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[4] J. A. Freeman and C. Nicholson, J. Neurophysiol., 38, 369 (1975).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000119&pid=S0870-1164201300020000300004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[5] C. Scheffey, Rev. Sci. Instrum., 59, 78 (1988).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000121&pid=S0870-1164201300020000300005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>[6] B. Reid, R. Nucitelli and M. Zhao, Nature Protocols, 3, 661 (2007).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000123&pid=S0870-1164201300020000300006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[7] A. Dorn and M. H. Weisenseel, Protoplasma, 113, 89 (1982).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000125&pid=S0870-1164201300020000300007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[8] R. Nucitelli, Experientia, 44, 657 (1988).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000127&pid=S0870-1164201300020000300008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[9] Y. Ishikawa and H. S. Isaacs, Boshoku Gijutsu, 33, 147 (1984).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000129&pid=S0870-1164201300020000300009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[10] H. S. Isaacs and Y. Ishikawa (Paper 55 - Applications of the vibrating probe to localized current measurements) in Proceedings of NACE Corrosion/85, March, Boston, Massashusetts, USA (1985).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000131&pid=S0870-1164201300020000300010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>[11] H. S. Isaacs and Y. Ishikawa (Application of the vibrating probe to localized current measurements) in Electrochemical Techniques for Corrosion Engineering (R. Baboian, ed.), National Association of Corrosion Engineers, Houston, Texas, USA, p. 17 (1986).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000133&pid=S0870-1164201300020000300011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[12] H. S. Isaacs (Applications of current measurement over corroding metallic surfaces) in Ionic Currents in Development (R. Nuccitelli, ed.), A. R. Liss Inc., New York, p. 37 (1986).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000135&pid=S0870-1164201300020000300012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[13] R. S. Tornhill and U. R. Evans, J. Chem. Soc., 614 (1938).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000137&pid=S0870-1164201300020000300013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[14] R. S. Tornhill and U. R. Evans, J. Chem. Soc., 2109 (1938).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000139&pid=S0870-1164201300020000300014&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[15] U. R. Evans, J. Iron and Steel Inst., 141, 219 (1940).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000141&pid=S0870-1164201300020000300015&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>[16] U. R. Evans (The Corrosion and Oxidation of Metals: Scientific Principles and Practical Applications), St. Martin’s Press, New York, USA, p. 861 (1960).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000143&pid=S0870-1164201300020000300016&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[17] H. R. Copson, Trans. Electrochem. Soc., 84, 71 (1943).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000145&pid=S0870-1164201300020000300017&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[18] W. Jaenicke and K. F. Bonhoefer, Z. Phys. Chemie A, 193, 301 (1944).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000147&pid=S0870-1164201300020000300018&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[19] y. V. Akimov, A. I. Gulobev, Zhur. Fiz. Khim., 20, 303 (1946).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000149&pid=S0870-1164201300020000300019&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[20] y. Bianchi, La Metallurgia Italiana, 45, 123 (1953).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000151&pid=S0870-1164201300020000300020&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>[21] C. Ilschner-Gensch, Zeitschrift fur Elektrochemie, 64, 275 (1960).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000153&pid=S0870-1164201300020000300021&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[22] I. L. Rosenfeld and I.S. Danilov, Corros. Sci., 7, 129 (1967).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000155&pid=S0870-1164201300020000300022&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[23] C. D. S. Tuck, Corros. Sci., 23, 379 (1983).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000157&pid=S0870-1164201300020000300023&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[24] M. K. Budd, F. F. Booth, Metalloberflache, 19, 197 (1965).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000159&pid=S0870-1164201300020000300024&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[25] H. Isaacs and B. Vyas (Scanning reference electrode techniques in localized corrosion), in Electrochemical Corrosion Testing, (Mansfeld, Bertocci, eds.), ASTM STP 727, American Society for Testing and Materials, Philadelphia, Pensilvania, USA, p. 3 (1981).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000161&pid=S0870-1164201300020000300025&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>[26] H. Kaesche (Ch. 11 – Galvanic Corrosion Cells) in Corrosion of Metals, Physicochemical Principles and Current Problems, Springer, Berlin, Germany (2003).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000163&pid=S0870-1164201300020000300026&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[27] R . S. Lillard (Scanning electrode techniques for investigating nearsurface solution current densities) in Analytical Methods in Corrosion Science and Engineering (P. Marcus, F. Mansfeld, eds.), CRC / Taylor & Francis, Boca Raton, Florida, USA, p. 571 (2006).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000165&pid=S0870-1164201300020000300027&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[28] y. Grundmeier, K.-M. Juttner and M. Stratmann (Novel electrochemical techniques in corrosion research) in Corrosion and Environmental Degradation, Vol. 1, (M. Schutze, ed.), Wiley-VHC, Weinheim, Germany, p. 285 (2000).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000167&pid=S0870-1164201300020000300028&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[29] K. R. Trethewey, D. A. Sargeant, D. J. Marsh and A. A. Tamimi, Corros. Sci., 35, 127 (1993).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000169&pid=S0870-1164201300020000300029&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[30] L. J. Gainer and y. R. Wallwork, Corrosion, 35, 61 (1979).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000171&pid=S0870-1164201300020000300030&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>[31] S. R. Allah-Karam, V. Vasantasree and M. y. Hocking, Corros. Sci., 43, 1645 (2001).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000173&pid=S0870-1164201300020000300031&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[32] H. S. Isaacs, J. Electrochem. Soc., 138, 722 (1991).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000175&pid=S0870-1164201300020000300032&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[33] J. Newman, K. E. Thomas-Alyea (Electrochemical Systems), 3rd Ed., Wiley, New Jersey, USA, p. 421ss (2004).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000177&pid=S0870-1164201300020000300033&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[34] N. Ibl, Comprehensive Treatise of Electrochemistry, Vol. 6, (E. Yeager, J. O’M. Bockris, B. E. Conway, Eds), Plenum Press (1983).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000179&pid=S0870-1164201300020000300034&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[35] C. Wagner, J. Electrochem. Soc., 98, 116 (1951).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000181&pid=S0870-1164201300020000300035&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>[36] J. T. Waber, J. Electrochem. Soc, 101, 27 (1954); 102, 344 (1955); 102, 420 (1955); 103, 64 (1956); 103, 138 (1956); 103, 567 (1956).</p>     <p>[37] <a href="http://www.uniscan.com" target="_blank">www.uniscan.com</a> (acesso em 21/3/2013).</p>     <p>[38] <a href="http://www.applicableelectronics.com" target="_blank">www.applicableelectronics.com</a> (acesso em 21/3/2013).</p>     <!-- ref --><p>[39] D. Worsley, A. Belghazi and S. M. Powell, Ironmaking Steelmaking, 26, 387 (1999).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000186&pid=S0870-1164201300020000300036&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[40] J. A. Freeman, P. B. Manis, P. C. Samson and J. P. Wikswo Jr (Microprocessor controlled two- and three-dimensional vibrating probes with video graphics: biological and electro-mechanical applications), in Ionic Currents in Development (R. Nuccitelli, ed.), A. R.Liss Inc., New York, USA, p. 21 (1986).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000188&pid=S0870-1164201300020000300037&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[41] R . y. Kasper, C. R. Crowe (Comparison of localized ionic currents as measured from 1-D and 3-D vibrating probes with finite-element predictions for an iron-copper galvanic couple) in Galvanic corrosion (H.P. Hack, ed.), ASTM STP 978, American Society for Testing and Materials, Philadelphia, Pensilvania, USA, p. 118 (1988).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000190&pid=S0870-1164201300020000300038&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <p>[42] <a href="http://www.microprobes.com" target="_blank">www.microprobes.com</a> (acesso em 21/3/2013).</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>[43] <a href="http://www.sciencewares.com" target="_blank">www.sciencewares.com</a> (acesso em 21/3/2013).</p>     <!-- ref --><p>[44] C. Scheffey (Electric fields and the vibrating probe, for the uninitiated) in Ionic Currents in Development (R. Nuccitelli, ed.), A. R. Liss Inc., New York, USA, p. xxv (1986).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000194&pid=S0870-1164201300020000300039&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[45] J. Elvins, J. A. Spittle, J. H. Sullivan and D. A. Worsley, Corros. Sci., 50, 1650 (2008).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000196&pid=S0870-1164201300020000300040&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[46] J. Ferrier and W. J. Lucas, Biophysical J., 49, 803 (1986).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000198&pid=S0870-1164201300020000300041&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[47] H. N. McMurray, D. Williams and D. A. Worsley, J. Electrochem. Soc., 150, B567 (2003).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000200&pid=S0870-1164201300020000300042&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <p>[48] Resultados do autor n&atilde;o publicados.</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>[49] H. S. Isaacs, Corrosion, 46, 677 (1990).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000203&pid=S0870-1164201300020000300043&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[50] B. P. Wilson, J. R. Searle, K. Yliniemi, D. A. Worsley and H. N. McMurray, Electrochim. Acta, 66, 52 (2012).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000205&pid=S0870-1164201300020000300044&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[51] A. C. Bastos, O. V. Karavai, M. L. Zheludkevich, K. A. Yasakau and M. y. S. Ferreira, Electroanalysis, 22, 2009 (2010).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000207&pid=S0870-1164201300020000300045&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[52] A. C. Bastos, O. V. Karavai, S. V. Lamaka, M. L. Zheludkevich and M. y. S. Ferreira, Corros. Prot. Mater., 28, 42 (2009).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000209&pid=S0870-1164201300020000300046&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <!-- ref --><p>[53] K. Ogle, V. Baudu, L. Garrigues, and X. Philippe, J. Electrochem. Soc., 147, 3654 (2000).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000211&pid=S0870-1164201300020000300047&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p>[54] Scanning Electrochemical Microscopy, 2nd Ed (A. J. Bard, M. V. Mirkin, eds.), CRC / Taylor & Francis, Boca Raton, Florida, USA (2012).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=000213&pid=S0870-1164201300020000300048&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></p>     <p>&nbsp;</p>     <p>Artigo submetido em Mar&ccedil;o de 2013 e aceite em Junho de 2013</p>      ]]></body><back>
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